更新時間:2024-09-10
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北京志鴻恒拓科技有限公司
曹
507533684
歡迎前來詢價
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•供電方式:100V-240V 交流或24V直流
•Hidex 300SL液體閃爍計數(shù)器按的TDCR技術(shù)原理采用了3支低本底光電倍增管以實現(xiàn)低水平的TDCR計數(shù),同時還采用主動反符合屏蔽探測器以減少來自環(huán)境本底的影響;計數(shù)器應(yīng)用軟件工作在Windows環(huán)境下,用戶操作界面友好。本計數(shù)器采用小型化、低重量設(shè)計,可以很方便集成進小型化實驗室從而使系統(tǒng)實現(xiàn)真正的可移動。儀器附帶有腳輪的實驗桌。
•Hidex 300SL液體閃爍計數(shù)器采用少70mm厚的鉛屏蔽層設(shè)計以進一步降低本底。
•Hidex 300SL液體閃爍計數(shù)器可在沒有放射性標準源的情形下,采用TDCR淬滅校正技術(shù)自動得到DPM值,由于沒有放射源,因此當儀器需要移動時,避免了辦理放射源許可以及放射源退役處理的麻煩以及費用,盡管如此,•本儀器也可采用傳統(tǒng)的Eu-152外標準源校正的方法作為備選項。
•Hidex 300SL是為專業(yè)的技術(shù)人員設(shè)計用于實驗室研究使用。
•Hidex 300SL 系列型號為425-020的液閃是一款配置反符合探測器及低本底光電倍增管的超低本底自動TDCR液閃計數(shù)器
同位素
•液閃計數(shù)法探測Alpha/Beta射線檢測
•LSC模式下Beta發(fā)射體能量探測范圍可達2000keV
•LSC模式下Alpha發(fā)射體能量探測范圍可達10000keV
•系統(tǒng)預(yù)設(shè)的測試程序:H-3(無淬滅、高含水及低含水量樣品),C-14,S-35,P-33,P-32,F(xiàn)e-55,I-125,Ni-63,Sr-90/Y-90以及自由測試程序。其他核素以及切倫科夫計數(shù)測試程序也可以很容易定義。
•在一次測量中可以定義多4個感興趣能量區(qū)域(ROI)。
數(shù)據(jù)分析
•多道分析技術(shù)
•兩路對數(shù)功能多道,每路1024道。
•采用Report Render程序分析Beta及Alpha譜
•通過MicroWin 2000軟件或微軟Excel宏分析淬滅校正曲線
•基于TDCR的淬滅校正方法、TDCR-淬滅曲線校正法、Eu-152外標準源淬滅曲線校正法(選購件)
計數(shù)模式
•Beta(全部符合計數(shù)),Beta Triple(三管符合計數(shù)以及Alpha計數(shù)模式(Alpha/Beta分離技術(shù),選購件)
•通過三管對兩管符合比直接測量Beta效率
•三管符合計數(shù)模式可在樣品有熒光樣品的情況測量而沒有任何影響,同時也可以用于低水平計數(shù)。
•物理尺寸:
桌子:1000mm(寬)×700mm(深)×590mm(高);帶制冷選購項時,深為812mm
300SL:520mm(寬)×630mm(深)×680mm(高);
•總重量:180kg
操作條件:
•+10℃-+40℃;大相對濕度:80%(溫度不超過31℃),隨著溫度升高,相對濕度線性衰減為40℃。
•僅適用于室內(nèi)使用。
•灰塵:系統(tǒng)僅適合于正常的實驗室環(huán)境下工作。
•光照:系統(tǒng)僅適合在正常的實驗室光照情況下工作。
儲存及運輸條件:
•運輸:-40℃-+70℃,濕度:5-90%,采用合適的運輸包裝。
•儲存:-25℃-+70℃,濕度:5-90%,采用運輸包裝。
外接電源:
•電壓:100-240V AC。
•頻率:50-60H。
•正常功率消耗:100W。
•大功率消耗:350W。
樣品:
•樣品瓶:5ml、7ml及20ml。
•樣品瓶的蓋子須為平以保證氣動機械裝置抓取。
•樣品瓶小尺寸:高55mm/直徑14mm。
•樣品瓶的兼容性必須事先向Hidex確認。
•樣品瓶須放置于96×5ml,96×7ml或40×20ml樣品瓶的支架中
•樣品支架系統(tǒng)可以與液體處理、細胞處理設(shè)備集成于一體。
計數(shù)時間:*Hidex 300SL液體閃爍計數(shù)器
•1秒-168小時(7天/每個樣品。
•單個測量程序的大重復(fù)測量次數(shù)為1024次(可以實現(xiàn)動力學(xué)測量)
樣品傳輸方式:
•機械手+氣動機械裝置實現(xiàn)任何樣品瓶的抓取、移動并放入測量室或從測量室取出并放回樣品支架原始位置。
靜電:
•在將樣品移動并放入探測器前通過去離子裝置進行處理
•用戶可以設(shè)置樣品去離子時間間隔為1秒。
淬滅校正方法:
•儀器具有自動顏色、化學(xué)淬滅及熒光探測校正功能。淬滅校正可以通過以下方法實現(xiàn):
1.TDCR校正方法
•可以無需使用任何外標準或內(nèi)標準源直接自動測量樣品的DPM值。
•可以無需使用任何外標準或內(nèi)標準源直接測量具有相同淬滅的雙Beta標記核素的DPM值。
•DPM與真值的偏差依樣品的淬滅程度以及核素的種類的不同一般不超過+/-10%(典型為小于+/-5%)。
•TDCR校正方法可以與淬滅曲線校正方法聯(lián)合使用形成的TDCR-淬滅校正曲線可以使DPM值的準確度提高到小于+/-2%。
2.Eu-152外標準源校正法(選購項)。
•建議只有在雙或三核素標記且核素的淬滅不同時需要使用該校正方法
3.淬滅校正曲線法
*Hidex 300SL液體閃爍計數(shù)器
•本計數(shù)器使用的應(yīng)用軟件如下:
•基于Windows系統(tǒng)的MicroWin 2000用戶應(yīng)用軟件,兼容CFR 21 part 11.
•Hidex 控制軟件
數(shù)據(jù)采用以下軟件:
•MikroWin 2000軟件
•基于Excel的Report Render譜分析軟件
•數(shù)據(jù)可以以各種用戶定義的數(shù)據(jù)格式(txt,xls,csv等)導(dǎo)出別的數(shù)據(jù)處理軟件或數(shù)據(jù)庫。
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